在集成电路(IC)及电路板(PCB)设计中,地电平面反弹噪声与回流噪声是影响电路性能稳定性的重要因素。尤其在电流变化剧烈或地电平面分割的情况下,这两种噪声问题尤为突出。
1.地电平面反弹噪声
定义:地电平面反弹噪声(简称地弹)是指在电路中存在大电流涌动时,由于芯片封装与电源平面间的电感、电阻效应,导致真正的地平面(0V)上产生电压波动和变化的现象。
产生原因:大量芯片输出同时开启,形成瞬态大电流,通过芯片与电源平面间的路径时,由于电感、电阻的存在,产生压降,使地平面电位偏离0V。
影响因素:负载电容增大、负载电阻减小、地电感增大、同时开关器件数目增加,均会加剧地弹现象。
2.回流噪声
定义:回流噪声是由于地电平面(包括电源和地)被分割为多个区域(如数字地、模拟地、屏蔽地等),当信号跨越不同地平面区域时,产生的电流回流路径上的噪声。
产生原因:地平面分割导致信号路径上的电流不得不通过其他路径回流,如数字信号进入模拟地线区域时,产生的回流电流会干扰模拟电路。
影响因素:电源层分割为不同电压等级(如2.5V、3.3V、5V等),地电平面的分割程度,以及信号跨区域的频率和幅度。
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