株式会社村田制作所(以下简称“村田”)宣布,成功开发出面向工业设备的数字三轴 MEMS (1)加速度传感器“SCA3400系列”。该系列产品在长期使用过程中的偏移寿命漂移(2)值控制在 0.5mg(毫伽)以下,在业内处于居先水平(3),具备优异的耐久性和长期稳定性,适用于桥梁、建筑等结构物的劣化监测系统,预计将于2025年10月开始量产。
注释
1. MEMS(微机电系统):一种通过对硅片等材料进行精密加工,集成传感器结构与电子电路的微型化制造技术。
2. 偏移寿命漂移:指传感器在长期使用过程中,其输出值随时间发生偏移的现象。该数值越高,代表漂移程度越大。
3. 数据来源:截至2025年6月23日,由村田提供。
随着工业设备数字化进程加速,对结构物和机械设备异常或损伤的自动检测需求日益增长,预测性维护的重要性也显著提升。在此背景下,利用传感器监测状态变化,已成为实现自动化运维的重要手段之一。尤其在桥梁、建筑等结构健康监测领域,监测通常需要长期持续进行,因此,加速度传感器是否能够准确捕捉结构物的微小形变或位移变化,将直接影响整个监测系统的可靠性。然而,传统高精度加速度传感器虽能检测细微倾斜,但其偏移寿命漂移值较高,随着使用时间的延长,输出基准易发生偏移,进而难以准确判断结构物的劣化情况。
为应对上述挑战,村田结合自有 MEMS 制造工艺与先进电路设计,开发出“SCA3400系列”产品,实现了在检测微小倾斜角度的同时,将偏移寿命漂移控制至 0.5mg 以下。该产品还具备出色的抗振动性能和温度稳定性,在恶劣工业环境中亦可实现长期稳定运行。
未来,村田将持续推动高精度 MEMS 加速度传感器技术的发展,满足市场的多样化需求。
主要特点
1. 偏移寿命漂移值控制在 0.5mg 以下,适合长期稳定输出需求。
2. 低噪声特性,可支持捕捉微小的动态变化。
3. 具备良好的抗振动和抗温度变化能力,适用于严苛工作环境。
4. 内置自诊断功能,可实时监控传感器运行状态,提升系统安全性。
5. 外形尺寸与接口方式延续以往产品设计,便于客户减少额外设计工时。
主要规格
在线留言询价
型号 | 品牌 | 询价 |
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CDZVT2R20B | ROHM Semiconductor | |
MC33074DR2G | onsemi | |
RB751G-40T2R | ROHM Semiconductor | |
TL431ACLPR | Texas Instruments | |
BD71847AMWV-E2 | ROHM Semiconductor |
型号 | 品牌 | 抢购 |
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STM32F429IGT6 | STMicroelectronics | |
BP3621 | ROHM Semiconductor | |
BU33JA2MNVX-CTL | ROHM Semiconductor | |
TPS63050YFFR | Texas Instruments | |
IPZ40N04S5L4R8ATMA1 | Infineon Technologies | |
ESR03EZPJ151 | ROHM Semiconductor |
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