纳芯微推出车规级自动双向型电平转换器NCAS0104和NCAB0104,高<span style='color:red'>ESD</span>防护与宽电压适配破解系统互联挑战
  纳芯微今日宣布推出车规级四位自动双向型电平转换器NCAS0104和NCAB0104。新推出的电平转换器具备高达15kV的ESD性能,支持更宽的端口输入电压(端口A:1.1~3.6V;端口B:1.65~5.5V)。可广泛适用于汽车信息娱乐系统、高级辅助驾驶系统、以及AI服务器等相关应用中,是系统间跨电压域互联互通的关键元件。  全新发布的NCAS0104和NCAB0104均为弱缓冲型电平转换器,其中,NCAS0104内部集成了N沟道传输FET、10kΩ上拉电阻和上升沿速率加速电路,适用于驱动高阻抗负载,支持推挽和开漏的应用场合;NCAB0104内部集成了上升沿/下降沿速率加速电路和4kΩ缓冲电路,适合轻负载的推挽应用。  ESD性能高达15kV  全面护航系统可靠性  NCAS0104和NCAB0104通过优化的电路设计实现了超高的ESD性能,高压侧的端口B通过了15kV的人体模型(HBM)测试 (JESD 22标准)和系统级ESD测试(IEC 61000-4-2标准),显著优于市场同类产品,为汽车电子等系统在复杂电磁环境下的稳定运行提供坚实保障。  更宽的端口输入电压  支持灵活的器件选型  NCAS0104和NCAB0104的端口A支持1.1~3.6V输入,端口B支持1.65~5.5V输入。更宽的端口输入电压,使得工程师能够在系统设计中不更换电平转换的情况下,更加灵活地选择外围器件,通过归一化的方案,显著降低系统设计难度,加速产品上市。  封装和选型  NCAS0104和NCAB0104满足AEC-Q100要求,工作温度为-40~125℃。NCAS0104提供TSSOP14和VQFN14封装,NCAB0104提供UQFN12封装。  TSSOP14  VQFN14  UQFN12  NCAS0104和NCAB0104将于2025年8月陆续量产。可联系纳芯微销售团队(sales@novosns.com)咨询产品详情或进行样片申请。  一站式电平转换解决方案  纳芯微可提供多种类型的电平转换器,包括:固定方向型、方向控制型、自动双向型,可满足客户在不同应用场合下的设计需求:  固定方向型电平转换器对器件输入端的输入信号执行单向电平转换,然后提供到器件输出端。纳芯微固定方向型电平转换器产品包括:NCA8244、NCA8244L、NCA8541,均为单电源供电。  方向控制型电平转换器配备一个或多个方向控制引脚,允许系统工程师灵活配置输入/输出方向,甚至实现单设备上的双向同时转换,提供更高的设计灵活性。纳芯微方向控制型电平转换器产品包括:NCA8T245、NCA8245、NCA8245L、NCA84245。  自动双向型电平转换器可自动感知通信方向并采取相应动作。如果处理器GPIO需要信号双向传输,自动方向型电平转换器可以提供更加稳健的解决方案。自动双向型电平转换器不需要使用方向控制信号,每个通道都支持数据的独立传输或接收,消除了对处理器GPIO控制DIR输入的需求,从而简化了软件驱动程序的开发。纳芯微已有的自动双向型电平转换器现包括:NCA9306、NCAS0104、NCAB0104。  纳芯微自动双向型电平转换器选型表
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发布时间:2025-07-02 09:26 阅读量:336 继续阅读>>
上海贝岭推出±30kV IEC <span style='color:red'>ESD</span>保护RS-485接口芯片BL3085(I4B)
  一、引言  在工业、智能电表等应用中,RS-485常常在电磁兼容性(EMC)极为严峻的环境中进行数据通信。复杂电磁环境中的静电放电和其它电磁干扰会造成较大的瞬态冲击,不仅可能造成通信信号失真或数据传输异常,更严重的可能还会损坏RS-485接口芯片,最终导致整个通信系统的失效。在这些恶劣的应用环境中,尽管TVS和TSS作为典型的电路保护器件,能够为RS-485芯片提供必要的瞬态冲击保护,但要想保证RS-485通信系统的可靠性,更需要RS-485芯片自身具有较强的抗EOS冲击能力。  二、产品概述  针对上述应用,上海贝岭推出了具有超强ESD保护能力的RS-485接口芯片BL3085(I4B),该芯片总线端口ESD保护能力高达±30kV(IEC 61000-4-2,接触放电),能够更好地承受工厂生产和现场应用中产生的EOS冲击。  BL3085(I4B)采用限摆率设计,能够减小EMI以及由于终端匹配不当引起的反射,支持高达500kbps的通信速率。芯片接收器输入阻抗为1/8单位负载,允许多达256个收发器挂接在总线上,实现半双工通信。  BL3085(I4B)具有多种保护功能,包括失效保护、过温保护等,这些功能共同构成了一个全面的保护体系,确保了芯片在各种异常情况下都能正常工作或安全关断。  三、核心优势  IEC 61000-4-2是国际电工委员会(IEC)制定的一个电磁兼容性(EMC)测试标准,主要用于评估电子设备在遭受静电放电(ESD)时的抗扰度性能。其中,接触放电(Contact Discharge)是一种重要的测试方法,通过模拟人体或物体直接接触设备表面时产生的静电放电现象,来评估设备的抗静电干扰能力。图1为IEC 61000-4-2 标准规定的 ESD 模拟发生器的理想电流波形。  图1 IEC 61000-4-2 标准规定的理想电流波形  RS-485芯片AB端口的ESD水平直接影响芯片的抗EOS冲击能力,目前市场上主流竞品AB端口ESD(接触放电)能力大多低于±15kV。(对比如图2所示)  图2 ESD(接触放电)能力对比  四、应用方案  近年来,开关电源在智能电表中的使用越来越广泛,为了更好地通过EMC实验,工程师在多个回路之间都加了Y电容,导致系统隔离度降低,RS-485总线端口受到较大EOS冲击。同时,智能电表通信速率提速到115200bps后,由于原TVS结电容较大,迫使厂家使用结电容较小的TSS。数据表明TSS管的瞬态抑制能力要明显弱于原有TVS管,这就造成了保护器件未动作,而RS-485接口芯片实际已经受到了冲击。  以上问题在表计实际生产交付过程中给厂家带来较大困扰。BL3085(I4B)所具备的出色的抗EOS冲击能力可以帮助生产企业更好的应对这些复杂问题,从理论设计上提高系统RS-485通信的可靠性。  图3为RS-485接口芯片在智能电表方案中的应用示意图。MCU和RS-485采用隔离供电,通过光耦或者数字隔离器实现主回路和RS-485之间的隔离。RS-485产品外围采用TVS/TSS和热敏进行防护。  图3 RS-485接口芯片的应用图  五、订货信息
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发布时间:2025-06-18 08:59 阅读量:244 继续阅读>>
15V超低电容高浪涌<span style='color:red'>ESD</span>元件——雷卯ULC1542CH完全替代<span style='color:red'>ESD</span>63091CN
  上海雷卯电子推出全新静电保护器件 ULC1542CH,这是一款小封装的(DFN1006))专为 15V信号线设计的静电保护方案。凭借14A的峰值脉冲电流(IPP)能力,ULC1542CH 具备优异的浪涌防护性能。0.6PF 低结电容,可以保障信号传输的完整性,能够有效抵御静电放电冲击,为高速数据传输线路提供可靠保护,  ULC1542CH核心参数与 ESD63091CN 完全匹配,支持 pin-to-pin 无缝替代。无需修改电路设计即可直接替换,为工程师提供了更灵活、高效的选型方案。  ESD63091CN与雷卯ULC1542CH参数表对比如下:  判断ESD二极管是否可以替代建议关注这几点:  1. VRWM 是否接近  2. 封装是否一样  3. 抗静电能力是否接近;  4. VBR 是否接近;  5. IPP 是否接近 ;  6. CJ 是否接近。  以上参数对比ULC1542CH完全可以替代ESD63091CN。  应用  1. 消费电子领域,无论是手机、平板的高速数据接口,还是智能穿戴设备的精密传感器线路。  2. 工业控制场景下,面对复杂电磁环境中频繁出现的静电威胁,它能为 PLC 控制线路、工业以太网接口等提供可靠防护。  3. 在汽车电子方面,从车载娱乐系统的数据线到车身电子控制单元的信号传输线,该器件都能助力设备稳定运行  总之,该器件适用于消费电子、工业控制等多种场景,在保持高性能的同时兼具成本优势,为工程师提供了更具灵活性的选型方案。
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发布时间:2025-06-06 11:08 阅读量:487 继续阅读>>
上海雷卯电子:DFN1006和DFN0603 封装——5V 超低电容带回扫<span style='color:red'>ESD</span>
  上海雷卯电子推出两款5V,小封装(DFN1006和DFN0603),带回扫,低钳位电压VCmax的防静电二极管:ULC0521CLV、ULC0542CLV。  带回扫ESD和普通ESD二极管电性参数图如下:  我们可以看到,普通的ESD 是随着IPP的增加VC 在逐渐增大,而带回扫的ESD 会在击穿以后有个回转,即把VC 降低到一个更低基点后再慢慢升高。所以回扫的ESD二极管的VC是明显的比普通的VC 要低很多,可以参看下表参数对比。  下表两款回扫型号和普通型号参数做对比:  表格参数介绍  Vrwm:反向关断电压,TVS管可承受的反向电压,在该电压下TVS管不导通。  VBR:击穿电压,ESD防护开始工作的电压,通常是TVS通过1 mA时的电压。  VC : 钳位电压  VCmax@A: Vcmax@IPP, 8/20us 最大峰值电流对应的钳位电压。  Cj : 结电容,TVS中的寄生电容,影响信号质量。  可以看到表格上两行带回扫ULC0521CLV、ULC0542CLV,在Ipp 是6A时钳位电压VC为8V ,下面两款普通ESD二极管,在IPP 是4A 或者5A 时 ,钳位电压VC 为25V ,远远高于带回扫的。  对于所要保护的IC来说,ESD二极管的钳位电压越低,越能更好的保护集成电路,提高集成电路的抗静电能力。所以对于选型工程师来说,更愿意选择带回扫型ESD二极管。ULC0521CLV、ULC0542CLV 低容,VC 低,高速信号静电防护最佳选择,比如可以应用于 USB3.0,RF信号等。  Leiditech雷卯电子致力于成为电磁兼容解决方案和元器件供应领导品牌,供应ESD,TVS,TSS,GDT,MOV,MOSFET,Zener,电感等产品。雷卯拥有一支经验丰富的研发团队,能够根据客户需求提供个性化定制服务,为客户提供最优质的解决方案。
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发布时间:2025-05-26 14:10 阅读量:814 继续阅读>>
一文详解<span style='color:red'>ESD</span>与EOS失效差异
  静电吸附灰尘,改变线路间的阻抗,影响产品的功能与寿命,因电场或电流破坏元件的绝缘或导体,使元件不能工作(完全破坏),因瞬间的电场或电流产生的热,元件受伤,仍能工作,寿命降低。  01元器件ESD损伤失效类型  突发性失效:  突发性失效也称硬失效,硬损伤。是指元器件的一个或多个电气参数突发劣化,完全失去规定功能的一种失效模式。通常表现为电子元器件自身短路、开路、功能丧失或电气参数严重漂移等。  具体现象表现为:一种是与电压相关的失效,如介质击穿,PN结方向漏电流增大等;另一种是与功率有关的失效,如烧毁、熔断等。这都使器件的电路遭到永久性损坏,可以在产品测试阶段发现。据有关统计资料表明,在受静电损伤的半导体器件中,突发性完全失效约占失效总数的10%以上。  潜在性缓慢失效:  如果带电体所带静电位或存储的静电能量较低,或ESD放电回路中有限流电阻存在,那么,一次静电放电脉冲可能不足以引起电子元器件的突发性失效,但强静电场电离绝缘层,会在元器件内部造成轻微损伤,这种损伤又是累积性的;随着ESD脉冲次数的增加,器件的阀值电压会逐渐下降,使元器件的电参数逐渐劣化,这类失效称为潜在失效。潜在失效往往表现为器件的使用寿命缩短,或者一个本来不会使器件损伤的小脉冲却使器件失效。这种失效事先难以检测,造成难以被人们发现的“软击穿”现象,给产品留下潜在的隐患,直接影响电子产品的质量、寿命、可靠性和经济性。据统计:潜在性失效占电子元件ESD失效总数的90%。  翻转失效:  翻转失效是指某些逻辑电路在正常运行中使原来记忆状态发生翻转。这种失效通常表现为信息的丢失或功能暂时变化,没有明显的硬损伤发生,且在ESD发生后、或重新输入信息、或重新启动设备能自动恢复正常的运行。  翻转失效的根本原因在于ESD的电磁辐射,确切地说是由于ESD尖峰电流产生的电气噪声造成的。ESD干扰可通过传导或者辐射等耦合路径进入到电子设备中。在ESD的近场区,主要取决于ESD源和接收机阻抗的容性耦合、感性耦合。在远场区,取决于电磁场耦合。  翻转失效主要表现:  程序破碎区的位翻转,引起程序"跑飞"或者"死机"。  数据存储区的位翻转,造成关键变量的翻转,引起功能逻辑的絮乱,比如中途突出循环程序,错误执行条件等。  外设控制寄存器的功能中断,引起外设配置状态变换,造成模块间数据通信异常。  中断控制器寄存器的功能中断,引起意外中断的发生导致程序的异常执行。  程序的位翻转,引起程序的异常执行。  JATAG逻辑的功能中断,导致整个DSP的复位或死机。  如果ESD干扰在电子线路中产生感应电压或电流超过了电平信号,设备正常工作程序将会发生翻转。在高阻抗电路中,信号是电压电平,容性耦合占主要成分,ESD感应电压是主要干扰源;在低阻抗电路中,信号是电流信号,感性耦合占主要成分,ESD感应电流是主要干扰源。  翻转失效通常会导致通信系统故障,画面显示异常、系统复位、时钟信号抖动、射频电路部分失效等现象。  02ESD损伤的特征  隐蔽性:人体不能感知静电,除非是发生了静电放电,但是发生静电放电,人体也不一定能有电击的感觉。这是因为人体感知的静电放电电压为2-3Kv  随机性: 电子元件什么情况下会遭受静电破坏呢?可以这么说,从一个元件生产后一直到它损坏前所有的过程都受到静电的威胁,而这些静电的产生也具有随机性。由于静电的产生和放电都是瞬间发生的,极难预测和防护。  复杂性:因电子产品的精细,微小的结构特点而费时、费事、费钱,要求较复杂的技术往往需要使用扫描电镜等精密仪器,即使如此有些静电损伤现象也难以与其他原因造成的损伤加以区别,使人们误把静电损伤失效当做是其他失效。  潜伏性:有些电子元器件受到静电损伤后,性能没有明显的下降,但是多次累加放电会给器件造成内伤而形成隐患,而且增加了器件对静电的敏感性 ,已经产生的问题没有任何方法可治愈。  03过度电性应力(Electrical Over Stress)  是指所有的过度电性应力。当外界电流和电压超过器件的最大规范条件时,器件会损伤或者直接损坏,EOS通常产生于如下方面:  电源AC/DC干扰、电源噪声和过电压  电路切换导致的瞬变电流/峰值/低频干扰,其持续时间可能达到几微秒或者几毫秒。  程序开关引起的瞬态/毛刺/短时脉冲干扰  不恰当的工作流程、工作步骤。  雷击浪涌干扰  闪电  04EOS&ESD差异对比表
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发布时间:2025-04-14 16:49 阅读量:496 继续阅读>>
矽力杰:极致性价比USB-C接口<span style='color:red'>ESD</span>保护方案
  什么是USB-C  USB Type-C(简称USB-C)是通用串行总线(USB)的标准化接口规范。其插头与插座采用对称式设计,支持双向插拔操作,物理尺寸为8.3mm×2.5mm,相较于传统USB Type-A/B接口更为紧凑,便于设备实现轻量化与薄型化设计。该接口兼容USB3.1标准,数据传输速率可达10Gbps;同时支持USB4协议,最高传输速率提升至40Gbps,并与Thunderbolt 3/4技术兼容。此外,USB-C集成USB Power Delivery(PD)协议,最大电力传输能力为240W,已广泛应用于笔记本电脑、平板电脑及小型电器快速充电场景。基于其多功能性与高效性,USB-C已成为现代电子设备接口的优选方案,推动设备互联标准化进程。  ESD保护重要性  静电放电(ESD)事件是电子设备损坏的常见原因之一。ESD事件产生的电荷在瞬间释放时,可能会损坏电子设备内部的电路,尤其是对于像USB-C这样高集成度、热插拔的接口来说,更容易受到ESD的影响。USB-C接口由于其高速数据传输能力和支持快充的特性,内部电路相对复杂且敏感。同时,由于其支持热插拔,用户在使用过程中可能会频繁地插拔设备,从而增加了ESD事件发生的可能性。  矽力杰USB-C保护方案  产品高速差分信号防护  USB-C接口包含两组高速差分信号通道(TX/RX),建议采用8颗超低电容ESD防护芯片(如SYT41A01DXD)。其工作电压为1.0V,峰值脉冲电流3A,封装为DFN0.6x0.3-2。该器件电容范围0.14~0.18pF,可最大限度降低信号衰减,确保高速数据传输稳定性。微型封装设计可优化PCB布局,减少走线弯曲,提升信号完整性。  D+/D-信号防护  针对USB2.0标准的D+/D-差分信号,可选用单通道芯片(如SYT02U05DWC)或双通道集成芯片(如SYT13S03SMD)。其工作电压分别为5V与3.3V,浪涌峰值电流分别为4A与7A。  CC/SBU信号防护  用于电力传输协议(PD)的CC/SBU信号线需选用ESD二极管(如SYS02H24DWD)。其工作电压为24V,峰值脉冲电流9A,封装为DFN1.0x0.6-2,满足IEC 61000-4-2标准中±30kV(空气/接触)ESD防护要求。  VBUS供电端口防护  针对USB-PD快充模式的高压VBUS端口,推荐采用大功率ESD防护芯片(如SYS12V20SLC)。其工作电压20V,浪涌峰值电流25A,封装为DFN1.6x1.0-2,可有效抑制瞬态过压冲击,确保供电系统稳定性。  矽力杰USB-C接口ESD保护方案
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发布时间:2025-03-25 09:27 阅读量:621 继续阅读>>
上海雷卯电子:耐压100v的车载以太网保护<span style='color:red'>ESD</span>
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发布时间:2025-02-07 14:22 阅读量:696 继续阅读>>
上海雷卯:通过信号浪涌35V以上的HDMI、USB3.0接口保护<span style='color:red'>ESD</span>二极管
  在现代电子设备中,HDMI2.0接口已成为连接高清视频和音频信号的重要桥梁,而USB 3.0接口则成为高速数据传输和多功能连接的核心枢纽;然而,这些接口也容易受到静电放电(ESD)和浪涌电压的影响,可能导致设备损坏或性能下降。上海雷卯电子提供了一系列高性能的ESD保护器件,以确保HDMI、USB3.0等高速接口的安全性和可靠性。本文将重点介绍如何选择合适的ESD保护器件,特别是针对35V及以上浪涌电压的挑战。  为什么选择ULC3324P10LV?  ULC3324P10LV 是上海雷卯电子推荐的一款专为高速接口(如HDMI和USB 3.0)设计的多路回扫型ESD二极管阵列。它具有以下显著优势:  1.强大的浪涌保护能力:ULC3324P10LV能够承受高达14A(8/20µs)的浪涌电流,远超过35V浪涌电压的要求。  2.低钳位电压:在14A,tp=8/20us测试下的钳位电压VC仅为7V,这意味着它能够在ESD事件发生时快速将过电压钳制在较低水平,保护敏感元件不受损害,减少因过电压引起的电路故障风险,提高整个系统的可靠性。  3.低漏电流:漏电流仅为nA级别,能够实现更节能的设计。  4.极低的结电容:ULC3324P10LV的结电容为0.55pF(IO-GND),这对于高速数据线路(如HDMI、USB3.0)来说至关重要,因为它可以确保信号传输的完整性,不会影响通信质量。  5.符合最高ESD标准:ULC3324P10LV的ESD冲击消散值达到了IEC 61000-4-2(4级)国际标准中的最高水平,能够有效保护HDMI、USB3.0接口免受高达30kV的接触放电和30kV的空气放电。  6.多路保护:单个器件可以保护四路数据线路,节省空间。  雷卯ULC3324P10LV规格书主要参数:  如何选择ESD保护器件?  在选择ESD保护器件时,需要考虑以下几个关键因素:  1. IEC 61000-4-2等级:选择符合IEC 61000-4-2标准的ESD保护器件,确保其能够承受一定级别的ESD冲击。对于HDMI、USB3.0等高速接口,建议选择至少达到4级的器件。  2. 浪涌电流承受能力:根据应用场景可能遇到的浪涌电流大小,选择能够承受相应浪涌电流的ESD保护器件。对于35V浪涌电压的保护需求,建议选择能够承受10A及以上的器件。  3. 钳位电压:选择钳位电压低的ESD保护器件,以减少浪涌事件中的电压尖峰,保护敏感电路。对于HDMI、USB3.0接口,钳位电压应尽量低于15V,以确保信号完整性和设备安全。  4. 结电容:对于高速数据线路,选择结电容低的ESD保护器件,以避免影响信号传输质量。理想的结电容应低于1pF,以确保最小的信号干扰。  结论  上海雷卯电子的ULC3324P10LV是一款专门为HDMI、USB3.0等高速接口设计的高性能回扫型ESD保护器件,它不仅能够承受高达14A的浪涌电流,还具有低钳位电压和低结电容的特点,非常适合需要通过35V浪涌电压保护的HDMI、USB3.0等高速接口。通过选择合适的ESD保护器件,可以确保电子设备在面对静电放电和浪涌电压时的安全性和可靠性,从而提升产品的整体性能和用户体验。  关于Leiditech雷卯电子  Leiditech雷卯电子,是电磁兼容解决方案和元器件供应领先品牌,提供包括ESD,TVS,TSS,GDT,MOV,MOSFET,Zener,电感等多种产品。雷卯拥有一支经验丰富的研发团队,能够根据客户需求提供个性化定制服务,为客户提供最优质的解决方案。
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发布时间:2025-01-15 14:13 阅读量:852 继续阅读>>
ROHM面向支持自动驾驶的高速车载通信系统, 开发出支持“CAN FD”的TVS二极管“<span style='color:red'>ESD</span>CANxx系列”
  全球知名半导体制造商ROHM(总部位于日本京都市)面向随着自动驾驶和高级驾驶辅助系统(ADAS)的发展而需求不断增长的高速车载通信系统,开发出支持CAN FD(CAN with Flexible Data rate)*1总线端口保护的双向TVS(ESD保护)二极管*2“ESDCANxx系列”。CAN FD是车载ECU(电子控制单元)之间实时且安全的数据收发所必需的通信技术。新产品可在不使CAN FD等高速通信中的传输信号劣化的前提下,保护ECU等电子设备免受浪涌和静电放电(ESD)的影响,从而实现高品质的车载通信。  “ESDCANxx系列”有SOT-23(2.9mm×2.4mm)和DFN1010(1.0mm×1.0mm)两种封装,分别支持24V和27V的截止电压(VRWM)。SOT-23封装有支持24V的“ESDCAN24HPY”、“ESDCAN24HXY”和支持27V的“ESDCAN27HPY”、“ESDCAN27HXY”共4款,DFN1010封装有支持24V的“ESDCAN24YPA”、“ESDCAN24YXA”和支持27V的“ESDCAN27YPA”、“ESDCAN27YXA”共4款,两种封装合计8款新产品。  随着自动驾驶技术和ADAS技术的快速发展,对速度更快、可靠性更高的车载通信系统的需求也随之增加。特别是自动驾驶领域,需要快速、准确地处理从摄像头、LiDAR和雷达等的传感器获取的大量信息,因此以往车载通信所用的CAN逐渐被能够更高速、更大容量地传输数据的CAN FD取代。另一方面,要想提高车载通信的速度,就必须实现在严苛环境下的稳定通信,因此对引脚间电容低、抗浪涌和钳位电压等特性优异的保护器件的需求日益高涨。因此,车载通信用TVS二极管市场预计未来将会进一步增长。为了满足这些市场需求,ROHM开发出同时实现了低引脚间电容和出色抗浪涌能力的新产品“ESDCANxx”。  新产品通过优化元件结构,将引脚间电容*3降至最大3.5pF,可防止高速通信时的信号劣化。另外还实现了出色的抗浪涌特性,大大提高了车载环境中电子设备的保护性能。例如,DFN1010封装的支持27V的新产品,与支持CAN FD的同等普通产品相比,抗浪涌能力*4提高了约3.2倍,钳位电压*5也降低了约16%。这可以有效地保护车载ECU等昂贵且对浪涌敏感的电子设备,即使在严苛的车载环境中也能提供高可靠性。  新产品已于2024年11月开始以月产50万个的规模逐步投入量产。前道工序在ROHM Apollo CO., LTD.(日本福冈县)进行,后道工序在ROHM Korea Corporation(韩国)等工厂进行。另外,新产品已经开始通过电商平台进行销售,通过Ameya360等电商平台均可购买(样品价格100日元/个,不含税)。  未来,ROHM将继续开发支持车载通信系统高速化的产品,为自动驾驶和车载通信环境的发展、并为实现更安全、更先进的出行社会贡献力量。  <产品阵容>      <应用示例>       ・自动驾驶和高级驾驶辅助系统(ADAS)  ・汽车电动动力总成系统  ・车载信息娱乐系统等  <电商销售信息>       开始销售时间:2024年12月起  电商平台:Ameya360  新产品在其他电商平台也将逐步发售。  产品型号:SOT23封装:ESDCAN24HPY、ESDCAN24HXY、ESDCAN27HPY、ESDCAN27HXY      DFN1010封装:ESDCAN24YPA、ESDCAN24YXA、ESDCAN27YPA、ESDCAN27YXA  <术语解说>      *1)CAN FD(CAN with Flexible Data rate)  CAN(Controller Area Network)协议的升级版,与传统的CAN相比,数据传输速度更快,数据容量更大。在自动驾驶和ADAS等系统中,多个车载电子控制单元(ECU) 之间的实时通信需要CAN FD协议。  *2)TVS二极管(Transient Voltage Suppressor Diode)  一种可保护电路免受过电压、浪涌和静电放电 (ESD:Electrostatic Discharge)影响的半导体器件。TVS二极管通过吸收突发的电压和电流尖峰(浪涌),来防止电路损坏和误动作。在车载环境中,防止异常的电气波动非常重要。  *3) 引脚间电容(Capacitance Between Terminals)  电子元器件中产生的不必要的电容分量。如果引脚间电容较大,高速通信时信号就会劣化,因此在车载通信应用中降低引脚间电容非常重要。  *4) 抗浪涌能力(Surge Current Rating)  TVS二极管能够承受的最大浪涌电流值。抗浪涌能力越高,对车载环境中异常电气波动的防护能力就越强。  *5) 钳位电压(Clamping Voltage)  TVS二极管抑制浪涌等引起的过电压时电路内维持的电压。该电压越低,越可以有效地保护电路和设备,从而提高车载设备的可靠性。
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发布时间:2024-12-24 14:57 阅读量:578 继续阅读>>
雷卯电子:集成电路电磁兼容性及应对措施相关分析(二)集成电路<span style='color:red'>ESD</span>问题应对措施
  ESD是指处于不同电位的两个物体之间,由于直接接触或静电场感应导致的电荷传输现象。在电子设备中,ESD 可能会对敏感的电子元件造成损害,因此提高ESD抗扰度对于保证电子设备的正常运行至关重要。预防措施能够将 ESD 抗扰度提高到约 15kV,这表明通过合理的设计和防护,可以有效降低 ESD 对电子模块的影响。  ESD问题应对措施  ESD测试只能在成品部件上进行,这是因为只有在整个部件完成开发和生产后,才能准确地评估其在实际工作环境中的ESD抗扰度。这也意味着在产品开发过程中,需要提前规划和考虑ESD防护措施,以避免在测试阶段出现问题而导致成本增加和时间延误.  1、改进IC设计:IC 制造商可以通过改进 IC 的设计来提高其ESD抗扰度。例如,采用更先进的ESD保护技术、优化电路布局和增加ESD保护器件等。这可以在一定程度上降低 ESD故障的发生概率,但需要在 IC 设计和制造过程中进行大量的研究和投入.  2、优化机械结构设计:在机械结构设计中采取适当的EMC预防措施也可以减少ESD对集成电路的影响。当 ESD干扰源自散热器并直接作用于IC外壳时,改变机械设计是解决问题的有效方法。这可能包括重新设计散热器的结构、位置或材料,以减少其对 IC 的干扰。然而,这种方法需要更改机械结构部件和生产工具,成本较高。因此,在产品设计的早期阶段,了解 IC 的电磁兼容性特性,并采取相应的预防措施,可以避免在后期出现此类问题,从而降低成本和缩短开发周期.  3、增加屏蔽:集成电路(IC)周围增加屏蔽罩、滤波电路等,以减少电磁干扰的耦合和传播。这需要在设计阶段就充分考虑 EMC 问题,并与电子设计人员进行密切合作。  (图3) 用场源检测到的微控制器的易感区域  比如,为了提高 ESD 免疫力,可以在 IC 上方设置屏蔽罩,以拦截散热片发出的电场,(如图3所示),在进行静电放电(ESD)  测试中,屏蔽罩还必须延伸到石英晶体上。从而将 ESD 免疫力提高到大约 15kV 左右。不过,需要注意的是,IC中的其他薄弱点可能会限制进一步提高免疫力,因为干扰仍可能通过线路网络耦合到 IC。因此在电子设备的设计中,需要综合考虑各种因素,不能仅仅依赖屏蔽层来解决电磁兼容性问题。  4、加强测试和评估:为了确保IC的 EMC 性能,需要进行严格的测试和评估。这包括 ESD 测试、电磁兼容性测试等,以验证集成电路在各种电磁环境下的性能和可靠性。通过测试,可以及时发现问题并采取相应的改进措施,从而提高集成电路的质量和稳定性。
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发布时间:2024-12-20 09:44 阅读量:874 继续阅读>>

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